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EQUIPE
ANALUCIA VIEIRA FANTIN
Desenvolvimento de Sotware
Inspetora Nível II em NDT em Shearografia
Formada em Matemática Aplicada e Computacional (1996) pela UFRGS, Mestrado em Metrologia Científica e Industrial (1999), Doutorado (2003), ambos pela UFSC. Professora Adjunta da UDESC desde 2018.
ARMANDO ALBERTAZZI
Pesquisa e Desenvolvimento em Métodos Ópticos
Formado Engenharia Mecânica pela UFBA(1982), Mestrado (1984) e Doutorado (1989) em Engenharia Mecânica pela UFSC. Professor titular em UFSC desde junho de 1987.
DANIEL PEDRO WILLEMANN
Desenvolvimento de Hardware
Inspetor Nível III em NDT em Shearografia
Formado em Engenharia Mecânica (1999), Mestrado em Metrologia Científica e Industrial (2002), ambos pela UFSC. Professor Adjunto da UDESC desde 2013.
MAURO EDUARDO BENEDET
Desenvolvimento de Automação
Inspetor Nível III em NDT em Shearografia
Formado em Engenharia de Controle e Automação (2006), Mestrado em Metrologia Científica e Industrial (2008), Doutorado em Engenharia Mecânica (2013). Professor da UNESC desde 2015.