Equipe de Desenvolvimento
Analucia Vieira Fantin
Desenvolvimento de Sotware
Inspetora Nível II em NDT com Shearografia
Formada em Matemática Aplicada e Computacional (1996) pela UFRGS, Mestrado em Metrologia Científica e Industrial (1999), Doutorado em Engenharia Mecânica (2003), ambos pela UFSC. Professora Adjunta da UDESC desde 2018.
Mais de 20 anos de experiência com a técnica de shearografia.
Armando Albertazzi
Pesquisa e Desenvolvimento em Métodos Ópticos
Formado em Engenharia Mecânica pela UFBA (1982), Mestrado (1984) e Doutorado (1989) em Engenharia Mecânica pela UFSC. Professor Titular da UFSC desde 1987.
Mais de 40 anos de experiência com interferometria óptica.
Daniel Pedro Willemann
Desenvolvimento de Hardware
Inspetor Nível III em NDT com Shearografia
Formado em Engenharia Mecânica (1999), Mestrado em Metrologia Científica e Industrial (2002), ambos pela UFSC, Doutorado em Ingegneria Meccanica pela Universidade de Ancona - Itália. Professor Adjunto da UDESC desde 2013.
Mais de 20 anos de experiência com metrologia óptica.
Mauro Eduardo Benedet
Desenvolvimento de Automação
Inspetor Nível III em NDT com Shearografia
Formado em Engenharia de Controle e Automação (2006), Mestrado em Metrologia Científica e Industrial (2008), Doutorado em Engenharia Mecânica (2013), pela UFSC. Professor Adjunto A da UFSC desde 2024.
Mais de 10 anos de experiência com inspeções de compósitos utilizando shearografia.
Leandro Lourenço de Amorim
Desenvolvimento de Hardware
Inspetor em NDT com Shearografia
Formado em Engenharia de Materiais pela Universidade de Federal de Santa Catarina - UFSC (2022). Com experiência na área de tratamento termoquímico em metalurgia e análise de superfície de tubulações. Conhecimento na área de soldagem TIG/MIG/MAG e na área de produção cerâmica de revestimento.
Bruno Schutz
Desenvolvimento de Software e Eletrônica
Inspetor em NDT com Shearografia
Formado em Engenheira Eletrônica Industrial pelo Instituto Federal de Santa Catarina - IFSC (2023).
Júlio Alexandre de Matheucci
Desenvolvimento de Bancada de Testes e Análise de Dados
Formado em Engenharia Mecânica (2006), Mestrado (2010) e Doutorado (2016) em Engenharia Mecânica pela UFSC. Professor da Unesc desde 2016.
Marcelo Viani Raulino
Inspetor de Dutos
Formado em Engenharia Eletrônica Industrial pelo Instituto Federal de Santa Catarina - IFSC (2024).